Home » Physical Science – Elettroottica » Nanotecnologie, materiali e superfici » Scanning Probe Microscopy

Scanning Probe Microscopy

AFM
STM
SNOM

Per informazioni lo specialista del prodotto è:

Giancarlo-PencoGIANCARLO PENCO
Responsabile Sezione Fisica
Tel: +39 06 35402933 r.a.
E-mail:
penco@crisel-instruments.it

Download

 

Back to Top