Crisel Instruments offre, per applicazioni in micro e nanotecnologie, strumentazione di misura quali microscopi SPM Scanning Probe Microscopes (tra cui troviamo AFM Atomic Force Microscope, STM Scanning Tunnelling Microscope, e SNOM Scanning Near Field Optical Microscope), oltre a sistemi per la misura di film spessi e sottili (da 5 nm a 200 µm).